银粒子粉末及其制造方法
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摘要

本发明涉及用TEM观察测定的平均粒径(DTEM)为200nm以下、长宽比不到2.50、(DTEM)/(Dx)为5.0以下[但(Dx)表示X射线结晶粒径]的银粒子粉末,I、Cl、SO42-、NO3和CN的含量分别是100ppm以下的银粒子粉末。因粒子粉末通过在沸点85℃以上的有机溶剂中,在有机保护剂的共存下,于85℃以上的温度还原硝酸银以外的银化合物而得到。

基本信息
专利标题 :
银粒子粉末及其制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101111334A
申请号 :
CN200680003884.X
公开(公告)日 :
2008-01-23
申请日 :
2006-02-01
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
佐藤王高
申请人 :
同和电子科技有限公司
申请人地址 :
日本东京
代理机构 :
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 :
王健
优先权 :
CN200680003884.X
主分类号 :
B22F1/00
IPC分类号 :
B22F1/00  B22F1/02  B22F9/00  B22F9/24  H01L21/288  H01L21/3205  
相关图片
IPC结构图谱
B
B部——作业;运输
B22
铸造;粉末冶金
B22F
金属粉末的加工;由金属粉末制造制品;金属粉末的制造,金属粉末的专用装置或设备
B22F1/00
金属粉末的专门处理;如使之易于加工,改善其性质;金属粉末本身,如不同成分颗粒的混合物
法律状态
2011-10-19 :
授权
2008-03-12 :
实质审查的生效
2008-01-23 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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