用于在并行测试系统中调度测试的方法和系统
专利权的终止
摘要

本发明揭示一种用于在并行测试系统中测试多个DUT的高效且低成本的方法。在一个实施例中,一种用于在具有通过一个或一个以上厂商硬件模块耦合到测试控制器的至少两个测试中装置iDUT的并行测试系统中调度测试的方法包含:接收包括以预定测试流程配置的多个测试的测试计划,其中所述预定测试流程包括配置在有向图中的多个测试,且将每一测试配置为所述有向图中的顶点;在运行时间根据所述测试计划来确定测试执行进度表,其中所述测试执行进度表根据所述至少两个DUT的当前状态识别待执行的下一组测试,且其中所述下一组测试包含将对不同的DUT执行的不同测试;以及使用所述测试执行进度表来测试所述至少两个DUT。

基本信息
专利标题 :
用于在并行测试系统中调度测试的方法和系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101120262A
申请号 :
CN200680004779.8
公开(公告)日 :
2008-02-06
申请日 :
2006-02-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
安卡恩·普兰马尼克足立敏明马克·埃尔斯顿
申请人 :
株式会社爱德万测试
申请人地址 :
日本东京
代理机构 :
北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人 :
王允方
优先权 :
CN200680004779.8
主分类号 :
G01R31/319
IPC分类号 :
G01R31/319  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/319
••••测试器硬件,即输出处理电路
法律状态
2015-04-08 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101604516233
IPC(主分类) : G01R 31/319
专利号 : ZL2006800047798
申请日 : 20060217
授权公告日 : 20100825
终止日期 : 20140217
2010-08-25 :
授权
2008-04-02 :
实质审查的生效
2008-02-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332