基于单片机的异步通讯并行测试系统

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

摘要

本实用新型适用于半导体集成电路测试技术领域，提供一种基于单片机的异步通讯并行测试系统，包括芯片运载单元、芯片测试单元和测试载板，测试载板上设有N个处理器小板和N个用于连接待测芯片的接线端口，N个处理器小板和N个接线端口均与芯片测试单元连接，每个处理器小板上的异步通讯端口和对应的一个接线端口连接，芯片测试单元和芯片运载单元连接，N为大于1的整数。解决多芯片异步通讯并行测试效率低的问题。

基本信息

专利标题：

基于单片机的异步通讯并行测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920992695.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-27

授权号：

CN210442476U

授权日：

2020-05-01

发明人：

李安平欧纲王健舒雄孔晓琳李建强云星李旺军

申请人：

深圳米飞泰克科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司

代理人：

徐汉华

优先权：

CN201920992695.4

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 H04L12/02

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/28

•电路的测试，例如用信号故障寻测器

法律状态

2022-03-11 ：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

IPC(主分类) : G01R 31/28
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳米飞泰克科技有限公司
变更后 : 深圳米飞泰克科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层
变更后 : 518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层

2020-05-01 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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