色谱仪质量分析装置
授权
摘要
一种色谱仪质量分析装置，适当设定测定时间范围，能够选择扫描测定、选择离子监测(SIM)测定或扫描/SIM同时测定的任一种，在进行测定条件表格的输入设定时，在显示部的画面上显示通过扫描测定标准试料得到的总离子色谱(51)、和预先制作的化合物表格(52)。操作人选定作为扫描/SIM测定的对象的化合物，向化合物表格(52)中的复选框输入标记，点击操作“自动制作”按钮(54)。这样，确定在选择的化合物的保持时间的前后带有规定的时间幅度的测定时间范围，自动制作在该范围内执行将对化合物赋予特征的质量数作为测定质量数的扫描/SIM同时测定的测定条件表格(53)而显示。
基本信息
专利标题 ：
色谱仪质量分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101400995A
申请号 ：
CN200680053732.0
公开（公告）日 ：
2009-04-01
申请日 ：
2006-03-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
住吉崇史
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本京都府
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
李国华
优先权 ：
CN200680053732.0
主分类号 ：
G01N30/72
IPC分类号 ：
G01N30/72 G01N27/62
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料
G01N30/02
柱色谱法
G01N30/62
相应的专用检测器
G01N30/72
质谱仪
法律状态
2012-05-09 ：
授权
2009-05-27 ：
实质审查的生效
2009-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN101400995B.PDF
PDF下载
2、
CN101400995A.PDF
PDF下载
