测试电路板的装置及数据处理系统
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种测试电路板的装置以及一种数据处理系统,其用于测试电路板。所述装置包括:电路板,所述电路板具有顶面、底面和多个侧面,其中,至少一个侧面具有测试点以接收测试探针;和多个连接至所述电路板的导电部件,每个所述测试点都连接有至少一个导电部件。所述系统包括:至少一个处理器;连接至所述处理器的存储器;连接至所述处理器的总线;以及电路板,所述处理器、存储器和总线中的至少一个安装在所述电路板上,所述电路板具有顶面、底面和多个侧面,至少一个侧面具有测试点以接收测试探针。

基本信息
专利标题 :
测试电路板的装置及数据处理系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720009519.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-10-09
授权号 :
CN201269918Y
授权日 :
2009-07-08
发明人 :
阿米尔·塞尔希里斯·卡特勒戴维·雷哈
申请人 :
苹果公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚
代理机构 :
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 :
朱德强
优先权 :
CN200720009519.1
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R31/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2017-11-24 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20071009
授权公告日 : 20090708
2009-07-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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