基于4f相位相干成像的泵浦探测装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种基于4f相位相干成像的泵浦探测装置,其特征在于:主要由激光器、分束器、探测光路和泵浦光路组成,所述分束器把激光器发出的激光脉冲分束至探测光路和泵浦光路,所述探测光路包括扩束系统、4f系统和记录系统,待测样品位于4f系统的焦平面上,所述泵浦光路包括转向元件和延时光路,泵浦光路的输出聚焦在待测样品上,所述探测光和泵浦光在待测样品处的夹角(β)在1.5°到10°范围内。本实用新型装置对光路的精度要求不苛刻;吸收泵探和折射泵探同时完成;在整个测量过程中样品不需要移动;单脉冲测量减少了光学积累效应,测试过程简单,对激光束的随机波动敏感度低;测量结果精确,测量速度快。

基本信息
专利标题 :
基于4f相位相干成像的泵浦探测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720041426.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-08-06
授权号 :
CN201072406Y
授权日 :
2008-06-11
发明人 :
宋瑛林李云波杨俊义王玉晓
申请人 :
苏州大学
申请人地址 :
215123江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路199号
代理机构 :
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 :
陶海锋
优先权 :
CN200720041426.7
主分类号 :
G01N21/45
IPC分类号 :
G01N21/45  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法,利用纹影方法
法律状态
2012-10-03 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101331912294
IPC(主分类) : G01N 21/45
专利号 : ZL2007200414267
申请日 : 20070806
授权公告日 : 20080611
终止日期 : 20110806
2008-06-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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