透射电镜中一维纳米材料测试载片
专利权的终止
摘要
透射电镜中一维纳米材料测试载片属于纳米材料性能原位检测领域。该载片包括中心金属片(1)、两个附耳(2)、狭缝(3)、扇形燕尾槽(4)、沿狭缝(3)对称分布的至少20个圆形栅孔(5)；分布于中心金属片(1)左右两侧且处于同一直径上的两个附耳(2)，包含附耳在内的整个金属片的直径在2.8－3mm之间；垂直于附耳(2)的直径、沿中心金属片(1)一侧开口的狭缝(3)，该狭缝(3)宽度为2－50μm，长为1.2－1.5mm；位于与狭缝(3)同一直径上且与狭缝(3)相对的、在中心金属片的另一侧开口的扇形燕尾槽(4)，扇形燕尾槽缺口半径为0.2－0.3mm，圆心角为30－45°。本实用新型结构简单，便于操作，可正带轴下实现对一维纳米材料的结构信息的把握，及的力学/电学综合性能测试。
基本信息
专利标题 ：
透射电镜中一维纳米材料测试载片
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720173277.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-09-21
授权号 ：
CN201083670Y
授权日 ：
2008-07-09
发明人 ：
韩晓东岳永海张跃飞张泽
申请人 ：
北京工业大学
申请人地址 ：
100022北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 ：
北京思海天达知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘萍
优先权 ：
CN200720173277.X
主分类号 ：
G01N13/10
IPC分类号 ：
G01N13/10 G01N27/00 H01J37/26
法律状态
2013-11-13 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101539129162
IPC(主分类) : G01N 13/10
专利号 : ZL200720173277X
申请日 : 20070921
授权公告日 : 20080709
终止日期 : 20120921
号牌文件序号 : 101539129162
IPC(主分类) : G01N 13/10
专利号 : ZL200720173277X
申请日 : 20070921
授权公告日 : 20080709
终止日期 : 20120921
2008-07-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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