本实用新型是一种电解质初晶温度检测装置，用于测量铝电解过程中电解质的初晶温度，它包括采样机构和控制柜。采样机构和控制柜均固定于支架基座上。采样机构包括加热炉、沿铅垂方向可往复移动的炉盖、连通加热炉的测温室以及沿铅垂方向可往复移动的测温计。炉盖铅垂向下方可活动地悬挂有沿铅垂方向可反复进入加热炉或者测温室的坩埚。在坩埚内腔中，可活动地插接有可导热的隔离套。该隔离套在坩埚内腔中隔离出同坩埚内腔分离的隔离室。测温计可反复插入隔离室中。该初晶温度检测装置可保护测温计免受熔融电解质的侵蚀，具有测温周期快捷、效率高的特点。