可供待测物定位的基板及具有该基板的检测设备
专利权的终止
摘要
本实用新型适用于检测技术领域,提供了一种可供待测物定位的基板及具有该基板的检测设备,所述基板上设置有复数导槽,所述导槽底部包括至少一个供气压导通的、在检测时将待测物吸附在所述导槽内的通孔,所述基板上还设置有一组供待测物连接、为待测物提供电信号的端子组。本实用新型提供的技术方案,可以解决检测待测物时定位精准的问题,通过基板上具有吸附力的导槽可迅速对每一条待测光棒测试,有助于提升测试速度。
基本信息
专利标题 :
可供待测物定位的基板及具有该基板的检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820212411.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-10-08
授权号 :
CN201311348Y
授权日 :
2009-09-16
发明人 :
胡咏家翁秉玮
申请人 :
中茂电子(深圳)有限公司
申请人地址 :
518054广东省深圳市南山区登良路南油天安工业村4号厂房8F
代理机构 :
广东国晖律师事务所
代理人 :
欧阳启明
优先权 :
CN200820212411.7
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2018-09-25 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20081008
授权公告日 : 20090916
终止日期 : 20171008
申请日 : 20081008
授权公告日 : 20090916
终止日期 : 20171008
2009-09-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
CN201311348Y.PDF
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