柔性电子基板上薄膜材料可靠性原位评价系统
避免重复授权放弃专利权
摘要

本实用新型涉及一种柔性电子基板上薄膜材料可靠性原位评价系统。该原位评价系统的基座内侧相对设置有平动滑块、固定块,固定块与基座固定连接,平动滑块与基座呈滑动连接,简支梁可动端安装于平动滑块上,简支梁固定端安装于与平动滑块相对的固定块上,与平动滑块相连的简支梁可动端和与固定块相连的简支梁固定端相对应,简支梁可动端和简支梁固定端之间安装试样,试样的一端放置在与基座相连的简支梁固定端,试样的另一端置于简支梁可动端。本实用新型无需考虑薄膜材料的导电性,对非导电薄膜材料仍然适用。实验操作简单快捷,可对样品进行原位实时定位观测与分析,解决现有技术中存在的薄膜材料开裂应变误差较大等问题。

基本信息
专利标题 :
柔性电子基板上薄膜材料可靠性原位评价系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820218665.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-10-24
授权号 :
CN201285359Y
授权日 :
2009-08-05
发明人 :
张广平朱晓飞张滨
申请人 :
中国科学院金属研究所
申请人地址 :
110016辽宁省沈阳市沈河区文化路72号
代理机构 :
沈阳科苑专利商标代理有限公司
代理人 :
张志伟
优先权 :
CN200820218665.X
主分类号 :
G01N3/20
IPC分类号 :
G01N3/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/20
施加稳定的弯曲力
法律状态
2011-09-21 :
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101185516757
IPC(主分类) : G01N 3/20
专利号 : ZL200820218665X
申请日 : 20081024
授权公告日 : 20090805
放弃生效日 : 20081024
2009-08-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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