具有辐射源的检查系统和方法
授权
摘要
在示例中，公开了一种检查系统，包括：次级辐射源，其被配置为响应于被来自初级电磁辐射发生器的初级电磁辐射照射而产生用于检查负载的次级电磁辐射；和一个或多个检测器，其被配置为在与次级检查束相互作用之后检测来自负载的辐射。
基本信息
专利标题 ：
具有辐射源的检查系统和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110121666A
申请号 ：
CN201780046875.7
公开（公告）日 ：
2019-08-13
申请日 ：
2017-07-27
授权号 ：
CN110121666B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
G·杰古
申请人 ：
德国史密斯海曼简化股份公司
申请人地址 ：
法国塞纳河畔维提
代理机构 ：
北京润平知识产权代理有限公司
代理人 ：
肖冰滨
优先权 ：
CN201780046875.7
主分类号 ：
G01V5/00
IPC分类号 ：
G01V5/00 H01J35/00 H05G2/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V5/00
应用核辐射进行勘探或探测，例如，利用天然的或诱导的放射性
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2019-09-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01V 5/00
申请日 : 20170727
申请日 : 20170727
2019-08-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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