用于控制离子污染的方法及系统
授权
摘要

由于质谱系统的大多数离子光学器件经受离子沉积且可在受到严重污染之后表现出明显不同的行为(例如,丧失灵敏度),因此必须定期清洁污浊的表面以维持灵敏度。虽然前端组件(例如,帘幕板、孔口板、Qjet、Q0、IQ0)的表面可相对容易清洁,但下游高真空腔室内所含有的组件(例如,Q1、IQ1)的污浊可导致极大的延迟及花费,这是因为在清洁之前必须将高真空腔室排气且基本上拆解。本文提供用于对质谱仪系统的组件的污染加以控制的方法及系统。通过在非数据获取周期期间减少污染离子的传输,本发明教示可提高吞吐量、改善稳健性及/或缩短对污浊的组件进行排气/拆解/清洁通常所需的停机时间。

基本信息
专利标题 :
用于控制离子污染的方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN109716482A
申请号 :
CN201780057314.7
公开(公告)日 :
2019-05-03
申请日 :
2017-09-13
授权号 :
CN109716482B
授权日 :
2022-04-12
发明人 :
T·R·科维Y·勒布朗B·A·施奈德
申请人 :
DH科技发展私人贸易有限公司
申请人地址 :
新加坡新加坡
代理机构 :
北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人 :
陈甜甜
优先权 :
CN201780057314.7
主分类号 :
H01J49/10
IPC分类号 :
H01J49/10  H01J49/26  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/02
零部件
H01J49/10
离子源;离子枪
法律状态
2022-04-12 :
授权
2019-10-18 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 49/10
申请日 : 20170913
2019-05-07 :
著录事项变更
IPC(主分类) : H01J 49/10
变更事项 : 发明人
变更前 : T·R·科维 Y·勒布朗 B·A·施奈德
变更后 : T·R·科维 Y·勒布朗 B·B·施奈德
2019-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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