位线的筛选方法、装置、存储设备和存储介质
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摘要

本发明实施例公开了一种位线的筛选方法、装置、存储设备和存储介质。所述方法包括:对相互独立的每一个待检测区域中所有位线以间隔施加相同电压的方式施加设定时间的第一检测电压和第二检测电压,对每一个待检测区域中的所有字线施加设定时间的截止电压;对每一个待检测区域进行检验编程操作,使每一个待检测区域中任意相邻的两个存储单元存储的数据均不同;校验每一个待检测区域中所有存储单元的存储数据是否与检验编程操作匹配;将存储数据与检验编程操作不匹配的存储单元对应的位线确定为失效位线。本发明实施例的技术方案解决了现有的失效位线检测方法难以检测出潜在失效位线的技术缺陷,实现了一次性快速、准确地检测出全部失效位线。

基本信息
专利标题 :
位线的筛选方法、装置、存储设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110910942A
申请号 :
CN201811089912.5
公开(公告)日 :
2020-03-24
申请日 :
2018-09-18
授权号 :
CN110910942B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
张赛苏如伟冯骏
申请人 :
北京兆易创新科技股份有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区学院路30号科大天工大厦A座12层
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
孟金喆
优先权 :
CN201811089912.5
主分类号 :
G11C29/50
IPC分类号 :
G11C29/50  G11C29/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/50
容限测试,例如,竞争、电压或电流测试
法律状态
2022-05-27 :
授权
2020-04-17 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/50
申请日 : 20180918
2020-03-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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