一种基于包络校正的方位NCS成像方法、系统、介质及设备
授权
摘要
本发明涉及一种基于包络校正的方位NCS成像方法、系统、介质及设备，该方法包括：将基频回波数据进行距离FFT变换、距离脉压及走动校正；将数据进行方位FFT变换后，依次进行弯曲校正和二维IFFT变换，得到第一SAR图像；将第一SAR图像进行二维FFT变换、脉压和二维IFFT变换，得到第二SAR图像；将第二SAR图像沿方位维划分小块，并对各小块数据进行二维FFT变换、进行包络校正和二维IFFT变换，再将各小块数据沿方位维在时域进行拼接，得到第三SAR图像；将第三SAR图像进行二维FFT变换、方位散焦恢复；将数据进行距离IFFT变换、方位高次项补偿和方位NCS变标处理，得到第四SAR图像。本发明在高分辨(大)斜视应用下，能够显著增加方位聚焦深度，改善图像质量。
基本信息
专利标题 ：
一种基于包络校正的方位NCS成像方法、系统、介质及设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109613535A
申请号 ：
CN201811518449.1
公开（公告）日 ：
2019-04-12
申请日 ：
2018-12-12
授权号 ：
CN109613535B
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
邢涛李军韦立登王新民
申请人 ：
北京无线电测量研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区永定路50号59楼
代理机构 ：
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨立
优先权 ：
CN201811518449.1
主分类号 ：
G01S13/90
IPC分类号 ：
G01S13/90 G01S7/41 G01S7/295
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S13/00
使用无线电波的反射或再辐射的系统，例如雷达系统；利用波的性质或波长是无关的或未指明的波的反射或再辐射的类似系统
G01S13/89
用于绘地图或成像
G01S13/90
使用合成孔径技术
法律状态
2022-05-13 ：
授权
2019-05-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 13/90
申请日 : 20181212
申请日 : 20181212
2019-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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