一种压接式IGBT模块测试系统及测试方法
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摘要
本申请公开了一种压接式IGBT模块测试系统及测试方法,主控单元控制加热电路单元控制压接式IGBT模块的测试温度,通过边沿触发电路单元提供边缘触发信号给驱动电路单元,驱动单元驱动双脉冲回路单元工作,输出双脉冲测试信号给显示单元进行显示,并通过显示单元传送给主控单元进行动态特性分析,实现了在不同温度下的压接式IGBT动态特性分析,同时,利用校正回路对双脉冲回路单元输出的电压信号和电流信号的时间偏移误差进行了校正,避免了因电压信号和电流信号存在时间偏差导致的测试精度降低问题,解决了现有的IGBT模块动态特性测试系统不能适用于研究温度对压接式IGBT模块动态特性的影响,动态测试精度较低的技术问题。
基本信息
专利标题 :
一种压接式IGBT模块测试系统及测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110426620A
申请号 :
CN201910828489.4
公开(公告)日 :
2019-11-08
申请日 :
2019-09-03
授权号 :
CN110426620B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
肖磊石盛超卢启付张健唐酿黄辉骆潘钿
申请人 :
广东电网有限责任公司;广东电网有限责任公司电力科学研究院
申请人地址 :
广东省广州市越秀区东风东路757号
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
黄忠
优先权 :
CN201910828489.4
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-19 :
授权
2019-12-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20190903
申请日 : 20190903
2019-11-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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