一种基于射频场空间分布加权的梯度匀场方法
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摘要

本发明提出了一种基于射频场空间分布加权的梯度匀场方法,包括以下步骤:S1,测量探头射频线圈中心的射频场空间分布;S2,根据选择的匀场线圈组合设定一维梯度匀场的脉冲序列并调制序列参数;S3,测量并拟合匀场线圈的场图;S4,将射频场空间分布针对匀场线圈的场图进行加权;S5,测量并拟合待匀场的静磁场场图;S6,将射频场空间分布针对待匀场的静磁场场图进行加权;S7,计算匀场线圈的电流改变量;S8,通过剩磁场空间分布谱学特性判断是否需要迭代。本发明通过直接测量探头的实际射频场空间分布,加权于梯度匀场的静磁场场图和匀场线圈场图拟合计算匀场电流,通过剩磁场空间分布的谱学特性建立虚拟谱图并评价线形指标,最终优化迭代直至收敛。

基本信息
专利标题 :
一种基于射频场空间分布加权的梯度匀场方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110780246A
申请号 :
CN201911059277.0
公开(公告)日 :
2020-02-11
申请日 :
2019-11-01
授权号 :
CN110780246B
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
宋侃
申请人 :
武汉中科开物技术有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖开发区光谷七路128号
代理机构 :
上海精晟知识产权代理有限公司
代理人 :
汤蔚莉
优先权 :
CN201911059277.0
主分类号 :
G01R33/3875
IPC分类号 :
G01R33/3875  G01R33/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/20
涉及磁共振
G01R33/28
G01R33/44到G01R33/64各组中仪器的零部件
G01R33/38
主磁场或梯度磁场的产生、均匀或稳定系统
G01R33/387
非均匀性补偿
G01R33/3875
使用修正线圈装置,例如有源调整
法律状态
2022-05-24 :
授权
2020-09-08 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/3875
申请日 : 20191101
2020-02-11 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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