控制空间温度分布的方法和装置
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摘要

一种用于控制工件上的空间温度的方法,其包含:提供保持在恒定温度的基底,所述恒定温度低于所述工件的温度,所述基底具有安装于所述基底顶部上的热绝缘材料层;固持所述工件使其抵靠具有多个空间区的平面支撑件的顶面,所述平面支撑件安装于所述热绝缘材料层的顶部上;用安装于所述平面支撑件的底面上的多个加热器独立地加热所述平面支撑件的每一空间区;以及在蚀刻过程中以至少每秒1℃的速率改变所述平面支撑件的至少一个空间区的温度。

基本信息
专利标题 :
控制空间温度分布的方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN102122607A
申请号 :
CN201010622815.5
公开(公告)日 :
2011-07-13
申请日 :
2005-12-01
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
尼尔·本杰明罗伯特·J·斯蒂格
申请人 :
蓝姆研究公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
上海胜康律师事务所
代理人 :
周文强
优先权 :
CN201010622815.5
主分类号 :
H01L21/00
IPC分类号 :
H01L21/00  H01L21/02  H01L21/683  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
法律状态
2013-03-20 :
授权
2011-08-24 :
实质审查的生效
号牌文件类型代码 : 1604
号牌文件序号 : 101100309087
IPC(主分类) : H01L 21/00
专利申请号 : 2010106228155
申请日 : 20051201
2011-07-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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