一种高温环境太赫兹材料介电特性测量装置及方法
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摘要

本公开提供了一种高温环境太赫兹材料介电特性测量装置及方法。其中,该装置包括加热模块;双路微波信号源;太赫兹收发模块,用于产生太赫兹发射信号和太赫兹本振信号,接收待测材料反射信号并与本振微波信号混频产生测试中频信号,及将太赫兹射频微波信号直接与本振微波信号混频产生参考中频信号;信号处理模块,用于接收负载校准测试、开路校准测试和短路校准测试情况下对应的测试中频信号和参考中频信号,进而得到对应的反射系数测量值;根据反射系数测量值、反射系数理论值与方向性误差、频率响应误差和源失配误差的关系,求解方向性误差、频率响应误差和源失配误差,进而再根据一维距离像估计待测材料厚度,求解出待测材料的介电特性。

基本信息
专利标题 :
一种高温环境太赫兹材料介电特性测量装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110780124A
申请号 :
CN201911094607.X
公开(公告)日 :
2020-02-11
申请日 :
2019-11-11
授权号 :
CN110780124B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
孙超常庆功赵锐胡大海郭荣斌
申请人 :
青岛兴仪电子设备有限责任公司;中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请人地址 :
山东省青岛市黄岛区香江路98号
代理机构 :
济南圣达知识产权代理有限公司
代理人 :
张庆骞
优先权 :
CN201911094607.X
主分类号 :
G01R27/26
IPC分类号 :
G01R27/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量;品质因数的测量,例如通过应用谐振法;损失因数的测量;介电常数的测量
法律状态
2022-04-22 :
授权
2020-03-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/26
申请日 : 20191111
2020-02-11 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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