一种框架式测试治具

授权

摘要

本实用新型公开了一种框架式测试治具，包括底座、产品浮动框和上盖，所述底座的内部设置有锁紧块，且锁紧块的内部设置有探针，所述锁紧块的前端安装有固定块，且固定块的前端安装有底替换块，其中，所述产品浮动框的前端安装有产品定位框，且产品浮动框位于底替换块的前端，所述产品定位框的前端安装有压头，且压头的前端安装有透光体，所述上盖的内部设置有上替换块，且上盖透光体的前端。该框架式测试治具，根据所测试摄像头模组的不同，需要治具提供不同条件的固定方式，通过更换底替换块和上替换块，使更换后的底替换块和上替换块均能适用于所测试摄像仪模组的固定条件，能够有效的提高治具自身的实用性以及灵活性。

基本信息

专利标题：

一种框架式测试治具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920413195.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-03-28

授权号：

CN210051793U

授权日：

2020-02-11

发明人：

涂炳超

申请人：

东莞市台易电子科技有限公司

申请人地址：

广东省东莞市高埗镇高埗村创兴路廉商智造产业园G栋四楼404室

代理机构：

佛山市智汇聚晨专利代理有限公司

代理人：

张艳梅

优先权：

CN201920413195.0

主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/04