一种浮动式自动对位的测试射频头
授权
摘要

本实用新型公开了一种浮动式自动对位的测试射频头,包括本体,所述本体的内部上端设置有大绝缘体,所述大绝缘体的内部插入有针管,所述本体的外表面套设有法兰,所述本体的底部插接在外导体的内部,所述法兰和外导体之间设有套设于本体上的大弹簧,所述针管的内部设有小弹簧,所述外导体的底端通过浮动卡环安装接触头,所述接触头的内部插入有针轴,针轴的外部通过套设的小绝缘体与所述外导体连接。接触头会带动针轴与主板射频元件中心位置对准,从而大幅度地降低误测率;同时,便于使用自动化测试线体,提高设备的稼动率,提高产线的生产效率;另外,对测试夹具的要求也会降低,从而降低制作测试夹具的成本。

基本信息
专利标题 :
一种浮动式自动对位的测试射频头
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920457784.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-04
授权号 :
CN209911498U
授权日 :
2020-01-07
发明人 :
傅依常黄鑫傅玉荣
申请人 :
谷连精密机械(深圳)有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道航城大道航城创新创业园A4-305
代理机构 :
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
汤东凤
优先权 :
CN201920457784.9
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-01-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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