一种用于3m暗室低频9k-90辐射测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于3m暗室低频9k‑90辐射测试装置，包括转动地板，所述转动地板的上端安装有升降柱，所述升降柱的上端安装有旋紧钮，所述旋紧钮的一侧安装有置物主臂，所述置物主臂的一端安装有旋转器，所述旋转器的下端安装有第一置物副臂，所述第一置物副臂的下端安装有第一置物副臂，所述第二置物副臂和第一置物副臂的一端均安装有置物挂钩，所述转动地板的外侧安装有顶层吸波材料，所述顶层吸波材料的上表面安装有盖板，所述转动地板的下端安装有传动轴，所述升降柱的下端安装有中盖板。本实用新型通过一系列的结构设计使得装置能方便快捷的对被测物体的角度进行调节，而且能能大大方便固定需要悬挂的物体。
基本信息
专利标题 ：
一种用于3m暗室低频9k-90辐射测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920490997.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-12
授权号 ：
CN210142151U
授权日 ：
2020-03-13
发明人 ：
刘泽
申请人 ：
深圳市优耐检测技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道铁岗社区宝田一路365号嘉皇源科技园附图2楼
代理机构 ：
北京卓恒知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李迪
优先权 ：
CN201920490997.1
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-03-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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