一种用于组合逻辑单粒子效应快速验证的芯片
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于组合逻辑单粒子效应快速验证的芯片，所述芯片包括：信号采集器和信号对比模块。其中，所述信号采集器，分别采集被检测芯片的第一方波信号和参考芯片的第二方波信号，并输入所述信号对比模块；所述信号对比模块，比对所述第一方波信号和所述第二方波信号，若出现连续至少三个周期的两方波信号高低位相反时，输出脉冲信号。利用本实用新型公开的一种用于组合逻辑单粒子效应快速验证的芯片，便于逻辑类芯片开展地面单粒子效应，可以评估逻辑类芯片的抗单粒子能力，尤其是抗单粒子翻转能力。
基本信息
专利标题 ：
一种用于组合逻辑单粒子效应快速验证的芯片
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920555201.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-23
授权号 ：
CN210427718U
授权日 ：
2020-04-28
发明人 ：
勾鹏张薇朱恒宇
申请人 ：
北京锐达芯集成电路设计有限责任公司
申请人地址 ：
北京市大兴区经济技术开发区科创十四街99号33幢D栋二层2192号
代理机构 ：
北京正理专利代理有限公司
代理人 ：
张雪梅
优先权 ：
CN201920555201.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-04-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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