双列单晶中子分析器单元
授权
摘要
本实用新型涉及一种双列单晶中子分析器单元，包括：底板，用于定位在光路系统中；分析器支架，设置在所述底板上且呈音叉形；第一列单晶，设置在所述分析器支架的前侧；第二列单晶，设置在所述分析器支架的后侧。本实用新型的分析器支架采用布置两列单晶且均以Rowland圆为聚焦模式，既能满足能量分辨率要求，又能充分利用中子束中子通量大幅提高。同时，该分析器支架采用梯形燕尾槽和梯形燕尾导轨的配合使用，既方便安装多个分析器支架安装又能够高精度地保证同轴性，可以探测更多种能量的中子，使得不同能量的中子分析器探测的动量点具有可比性。
基本信息
专利标题 ：
双列单晶中子分析器单元
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920721607.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-20
授权号 ：
CN210376193U
授权日 ：
2020-04-21
发明人 ：
张红霞汪晋辰程鹏刘娟娟徐大业鲍威
申请人 ：
中国人民大学
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村大街59号
代理机构 ：
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 ：
谢斌
优先权 ：
CN201920721607.7
主分类号 ：
G01N23/204
IPC分类号 ：
G01N23/204 G01N23/207
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/203
测量背散射
G01N23/204
利用中子
法律状态
2020-04-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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