一种半导体测试过程用工夹具

授权

摘要

本实用新型属于半导体检测技术领域，具体为一种半导体测试过程用工夹具，包括基座，所述基座的顶部固定连接有对称设置的两个安装板，两个所述安装板内均设有安装腔，所述安装腔内设有螺纹杆，所述螺纹杆的两端均与安装腔的内壁转动连接，所述螺纹杆上固定套接有第一齿轮，所述第一齿轮上设有相啮合的第二齿轮，所述第二齿轮远离第一齿轮的一端固定连接有转杆，所述转杆远离第二齿轮的一端贯穿安装腔的内壁并固定连接有转块，所述转块上滑动插设有卡杆，所述安装板上设有与卡杆对应的多个卡槽。本实用新型结构简单，操作便捷，从而降低了半导体测试时所需要的时间，提高检测效率。

基本信息

专利标题：

一种半导体测试过程用工夹具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920841307.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-05

授权号：

CN210132422U

授权日：

2020-03-10

发明人：

邢小亮

申请人：

无锡世百德微电子有限公司

申请人地址：

江苏省无锡市南湖大道789号I幢5楼

代理机构：

南京禾易知识产权代理有限公司

代理人：

李海霞

优先权：

CN201920841307.2

主分类号：

B25B11/00

IPC分类号：

B25B11/00