一种XRD三维晶体学重构三轴样品台、扫描电子显微镜
授权
摘要

本实用新型属于材料衍射三维重构技术领域,公开了一种XRD三维晶体学重构三轴样品台、扫描电子显微镜,设置有圆形样品台底座;圆形样品台底座中心开有一螺纹孔,圆形样品台底座与旋转台通过螺纹孔用螺栓连接;旋转台与样品台底座间设有滚动轴承,旋转台侧壁设有涡轮;样品台底座上通过螺栓固定有第一电机,第一电机通过涡轮与旋转台中的滚动轴连接;旋转台两端通过螺栓固定有对称放置的第一立柱和第二立柱;第一立柱和第二立柱中心偏上位置开孔,在两孔中插入一摇篮杆;摇篮杆中部通过螺栓固定有第三电机,第三电机上端通过轴承与载物台连接。本实用新型便于放置与拆卸样品,可以在扫描电子显微镜中使用,能够得到更为普遍的应用。

基本信息
专利标题 :
一种XRD三维晶体学重构三轴样品台、扫描电子显微镜
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920859473.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-10
授权号 :
CN210427409U
授权日 :
2020-04-28
发明人 :
吴桂林范津铭黄天林黄晓旭
申请人 :
重庆大学
申请人地址 :
重庆市沙坪坝区沙正街174号
代理机构 :
重庆市信立达专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
包晓静
优先权 :
CN201920859473.5
主分类号 :
G01N23/207
IPC分类号 :
G01N23/207  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射,例如,利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
2020-04-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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