一种测量半导体光放大器SOA线宽增强因子的装置
授权
摘要
本实用新型涉及全光信号处理技术领域，尤其是一种测量半导体光放大器SOA线宽增强因子的装置，包括光源部分和光纤斐索干涉仪两部分，光源部分包括第一激光器和第二激光器；第一激光器发出的信号光依次经过第一偏振控制器和第一波分复用器进入被测的半导体光放大器SOA；第二激光器发出的控制光经过调制器后依次经过第二偏振控制器和第一波分复用器同时进入被测的半导体光放大器SOA；从半导体光放大器SOA输出的光进入第二波分复用器；后进入光纤斐索干涉仪，根据干涉结果计算被测SOA的线宽增强因子。本实用新型结构简单，对外界不敏感，测量精度高，另外，在测量非线性相移和线宽增强因子时对信号光、控制光功率和偏置电流不做限制，适用范围较广。
基本信息
专利标题 ：
一种测量半导体光放大器SOA线宽增强因子的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921111269.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-16
授权号 ：
CN210571295U
授权日 ：
2020-05-19
发明人 ：
吴重庆
申请人 ：
南京恒高光电研究院有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市栖霞区尧化街道尧佳路7号上城风景北苑16幢1007室
代理机构 ：
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴东勤
优先权 ：
CN201921111269.1
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01J9/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-05-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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