本实用新型公开了一种半导体线宽测试仪，包括箱体，所述箱体前端面的中间位置设置有凹槽，所述凹槽的前端设置有箱门，所述凹槽下端面中间的前方设置有滑槽，所述滑槽的内侧滑动连接有条形块，所述条形块前端面的中间位置固定安装有把手B，所述条形块的上端面固定连接有圆台，所述圆台上端面的中间位置设置有方形槽，所述方形槽内壁的两侧均安装有两个弹簧A，所述弹簧A的另一端固定连接有夹板A，所述方形槽内壁前方和后方的中间位置固定安装有弹簧B，所述弹簧B的另一端固定连接有夹板B。本实用新型可以对不同尺寸的半导体进行固定，且便于对探头进行更换，保证了仪器的测量精度。