一种半导体LED光谱测试仪
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种半导体LED光谱测试仪,包括外壳、狭缝接口、第一球面镜、衍射光栅、第二球面镜、柱面透镜和CCD,外壳的侧壁固定连接有狭缝接口,外壳的内部分别固定连接有第一球面镜、衍射光栅、第二球面镜和柱面透镜,第一球面镜位于狭缝接口的相对面上,第一球面、镜衍射光栅、第二球面镜和柱面透镜构成一条光路,第一球面镜和第二球面镜固定在外壳内壁的右侧,镜衍射光栅和柱面透镜固定连接在外壳内壁的左侧,柱面透镜的背部固定连接有CCD。本实用新型通过在采用光电分离的设计方案,将光学元件与后级处理的电路分开,有效的避免后级电路工作时产生的高温对光学元件造成影响,保障了CCD的工作温度稳定,消除了光谱仪的温度影响。

基本信息
专利标题 :
一种半导体LED光谱测试仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921361515.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-21
授权号 :
CN210464876U
授权日 :
2020-05-05
发明人 :
张书恒
申请人 :
光硕光电科技(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区南汇新城镇海基六路218弄15号楼602
代理机构 :
南京业腾知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
董存壁
优先权 :
CN201921361515.9
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2021-07-30 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20190821
授权公告日 : 20200505
终止日期 : 20200821
2020-05-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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