一种相序测量系统
授权
摘要
本申请公开了一种相序测量系统，包括MCU、片选通信电路、分别接入各个相电路的电压采样电路、以及分别与各个电压采样电路对应的单相电能计量芯片；电压采样电路用于对相应的相电路进行相电压检测并输出采样电压；单相电能计量芯片的检测输入端与对应的电压采样电路的输出端连接，用于对输入的采样电压进行过零检测并记录过零时刻；MCU通过片选通信电路分别与各个单相电能计量芯片的通信端连接，用于输出与各个过零时刻对应的相序。本申请利用分别接入各个相电路的电压检测电路以及对应的单相电能计量芯片，不仅可实现对电路的相序测量，还可在无需增设额外隔离器件的情况下有效确保各个相电路间电路隔离，提高了产品适用性并降低了成本。
基本信息
专利标题 ：
一种相序测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921183764.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-25
授权号 ：
CN210294413U
授权日 ：
2020-04-10
发明人 ：
陈波陈强鹏
申请人 ：
杭州万高科技股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市滨江区六和路368号一幢（北）四楼B4004室
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈丽
优先权 ：
CN201921183764.3
主分类号 ：
G01R29/18
IPC分类号 ：
G01R29/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/18
相序指示；同步指示
法律状态
2020-04-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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