本实用新型公开了一种全协议快充快放老化测试设备，包括一结构主体，所述结构主体由底座、测试柜及控制器组成；所述测试柜由一号测试柜、二号测试柜及三号测试柜组成，所述一号测试柜、二号测试柜及三号测试柜内分别设有单片机，所述一号测试柜内设有小号储位，所述二号测试柜内设有中号储位，所述三号测试柜内设有大号储位，且所述一号测试柜、二号测试柜及三号测试柜上分别设有柜门；所述控制器内设有加热器、降温器、循环风机、温度传感器及恒温控制器；本实用新型兼容目前市面上多种快充协议，不用通过转接板来诱导升压，由单片机控制升压，实现快速升压，其全面性和兼容性非常好，降低了客户成本及提升了测试效率。