本实用新型属于光通讯设备技术领域，涉及一种光器件高低温跟踪误差测试装置，包括平台基板，所述平台基板上表面设置控制电路板，控制电路板上设置光器件供电端口；平台基板上还设置有导轨，高低温箱与所述导轨滑动配合连接，平台基板上对应于导轨的端部位置处设置光器件夹具；高低温箱内部从上往下依次设置水箱、半导体制冷器、散热片、风扇。该测试装置能在短时间内完成‑40℃~+85℃的高低温变化，并且能够批量测试光器件跟踪误差的小型化光器件高低温性能测试装置，从而提高光器件性能测试的效率，降低生产成本。