一种超低本底宽能高纯锗γ谱仪
授权
摘要

本实用新型公开了一种超低本底宽能高纯锗γ谱仪,包括仪器本体和固定支架,所述仪器本体固定在固定支架顶部,所述仪器本体下方设有固定件,所述固定件与固定支架固定,且固定件下方设有自定位移动件,所述自定位移动件与固定件活动连接,此超低本底宽能高纯锗γ谱仪,区别于现有技术,能够方便的对仪器本体进行移动搬运,其同时能够进行有效的定位支撑,从而有效方便了γ谱仪移动搬运工作,给搬运人员带来了极大的便利,方便了γ谱仪的移动使用,结构巧妙,方便实用。

基本信息
专利标题 :
一种超低本底宽能高纯锗γ谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921551823.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-18
授权号 :
CN210720742U
授权日 :
2020-06-09
发明人 :
林周梁许凡
申请人 :
深圳市有嘉科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区龙华街道富康社区油松第二工业区1980科技文化产业园4栋4层407-412室
代理机构 :
深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙)
代理人 :
谢肖雄
优先权 :
CN201921551823.8
主分类号 :
G01T1/36
IPC分类号 :
G01T1/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/36
测量X射线或核辐射的能谱分布
法律状态
2020-06-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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