高纯锗探测器标定装置
专利权的终止
摘要
本实用新型涉及高纯锗探测器标定装置，包括：套筒、旋转筒、支架装置和滑动装置；旋转筒与套筒的上表面活动连接，并且旋转筒和套筒同轴旋转；支架装置卡设在旋转筒上；滑动装置卡设在支架装置上；支架装置为半圆形；支架装置包括第一支架和第二支架；第一支架的两端分别与第二支架的两端固定连接；滑块具有第一滑动安装槽和第二滑动安装槽；滑动尺穿设于第二滑动安装槽内，并由螺丝固定；滑动尺的设置方向为半圆形的半径方向；固定架的上端固定连接滑动尺的下端，且固定架的下端固定连接铜盒；盒盖的一端与盒体的侧面活动连接；盒体的底面开设有通孔；滑块通过第一滑动安装槽设置在第二支架上，沿第二支架滑动。
基本信息
专利标题 ：
高纯锗探测器标定装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020116640.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-19
授权号 ：
CN211402763U
授权日 ：
2020-09-01
发明人 ：
赵瑞孙圣涛吴金杰
申请人 ：
中国计量科学研究院
申请人地址 ：
北京市朝阳区北三环东路18号
代理机构 ：
北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李楠
优先权 ：
CN202020116640.X
主分类号 ：
G01T7/00
IPC分类号 ：
G01T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T7/00
辐射计量仪器的附件
法律状态
2022-01-07 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01T 7/00
申请日 : 20200119
授权公告日 : 20200901
终止日期 : 20210119
申请日 : 20200119
授权公告日 : 20200901
终止日期 : 20210119
2020-09-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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