本实用新型属于荧光光谱技术测试领域，尤其涉及一种荧光光谱的测试装置。荧光光谱的测试装置，用于获取待测材料的荧光光谱，其包括：激发结构，包括激发光源以及角度调节机构，激发光源用于生成预设波长的激发光束，激发光束以预设的入射角度入射待测材料表面，角度调节机构用于调节入射角度的值；旋转结构，用于固定待测材料，并根据用户输入的控制指令对待测材料和激发光源进行同步旋转；以及检测结构，用于接收待测材料生成的受激光束，并根据受激光束得到对应的荧光光谱。本实用新型通过分析在不同旋转角度下测得的荧光光谱，最终得到待测材料的角度分布特性。