基于光电子集成芯片的荧光光谱测试装置及其制备方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种基于光电子集成芯片的荧光光谱测试装置及其制备方法。所述基于光电子集成芯片的荧光光谱测试装置包括:样品台;氮化镓光电子集成芯片,位于所述样品台上方,包括透明衬底、位于所述透明衬底一侧的透明LED器件、以及位于所述透明衬底另一侧的滤光器件,所述透明LED器件用于向所述样品台方向发射具有第一波长的发射光信号,所述滤光器件用于仅透过具有第二波长的激发荧光信号,所述第二波长大于所述第一波长;透镜,位于所述氮化镓光电子集成芯片上方;光纤,位于所述透镜上方;光谱仪,用于接收并分析所述光纤传输的所述激发荧光信号。本发明缩小了荧光光谱测试装置的体积,简化荧光光谱测试装置的光路结构。
基本信息
专利标题 :
基于光电子集成芯片的荧光光谱测试装置及其制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114371155A
申请号 :
CN202210004730.3
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2022-01-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
蒋元王永进高绪敏石帆严嘉彬秦飞飞
申请人 :
南京邮电大学
申请人地址 :
江苏省南京市文苑路9号
代理机构 :
上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈丽丽
优先权 :
CN202210004730.3
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20220104
申请日 : 20220104
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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