一种COC芯片光谱测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种COC芯片光谱测试装置，包括温控测试台和光谱仪，所述温控测试台顶部设置有热沉，所述热沉顶部设置有工装，所述工装顶部设置有芯片，所述工装一侧设置有焊盘G，所述热沉顶部靠近所述焊盘G一侧设置有焊盘S。有益效果在于：本实用新型通过设置激励电源盒和射频探针，可实现电流调制和电压调制两种模式，提高了设备检测芯片的种类，同时通过激励电源盒模拟更多的使用应用情况，提高了产品的测试精度，降低了产品不良率。
基本信息
专利标题 ：
一种COC芯片光谱测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921848426.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-30
授权号 ：
CN211905578U
授权日 ：
2020-11-10
发明人 ：
张振峰杨国良邱德明
申请人 ：
武汉盛为芯科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区大学园路20号武汉普天科技园2#大楼一层103-2室
代理机构 ：
武汉红观专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李季
优先权 ：
CN201921848426.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01N21/31
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-11-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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