一种半导体制冷片温差测试装置

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摘要

本实用新型公开了一种半导体制冷片温差测试装置，其包括：散热器、工作台、支架、制冷片固定座和双通道温度监控器，所述支架上设置有向下指向制冷片固定座的升降驱动装置，所述升降驱动装置底部设置有与制冷片固定座平行的压板，所述制冷片固定座顶面内凹设置有与半导体制冷片对应的卡槽，所述卡槽中及压板底面分别内凹设置有探头定位槽，所述双通道温度监控器含有分别设置在探头定位槽中的探头，所述探头定位槽中设置有对探头支撑的隔热弹性体，所述散热器设置在制冷片固定座的底部。本实用新型所述的半导体制冷片温差测试装置，提升了测试环境的稳定性和统一性，探头与半导体制冷片双面的接触比较稳定，提高了检测准确率。

基本信息

专利标题：

一种半导体制冷片温差测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921661388.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-07

授权号：

CN210464704U

授权日：

2020-05-05

发明人：

耿靳财祁奇徐越

申请人：

青云志能源科技(苏州)有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市吴江区五方路208号（青云志）

代理机构：

苏州启华专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

徐伟华

优先权：

CN201921661388.4

主分类号：

G01K3/08

IPC分类号：

G01K3/08