本实用新型公开了一种半导体制冷片温差测试装置，具体涉及半导体制冷片生产领域，包括底座，所述底座顶部的一侧固定连接有承台，承台的顶部设置有第一隔热垫，第一隔热垫的底部固定连接有第一支撑杆，底座顶部的另一侧固定连接有支撑柱，支撑柱靠近承台一侧的顶部固定连接有横梁，横梁底部的中部设置有升降组件，升降组件的底部固定连接有承载板，承载板底部的一侧设置有第二隔热垫。本实用新型通过升降组件驱动承载板，通过第二隔热垫、第一隔热垫的闭合对半导体制冷片进行固定夹持，为半导体制冷片的温度检测提供稳定的支撑基础，同时第二隔热垫、第一隔热垫由隔热材料制成，避免半导体制冷片的受夹持件的温度变化影响。