一种石英晶片坨的测量装置
授权
摘要
本实用新型提供一种石英晶片坨的测量装置，具体涉及石英晶片生产领域，包括主尺，主尺一端两侧分别设有内测量爪和外测量爪，主尺上设有游标尺，游标尺一端两侧也分别设有内测量爪和外测量爪，游标尺可在主尺上滑动，游标尺为凹型结构，且凹型结构端部向水平方向与主尺卡合，游标尺的延伸部分侧面上设有通孔，通孔内设有转动板，转动板一端与主尺的侧面平行，并通过磁性相接，转动板另一端与水平面成15至30夹角，即转动板呈弯折状结构；转动板的弯折处设有转轴，转动板通过转轴与通孔的内侧壁转动连接；且转动板一端下压时，另一端与主尺的侧面分离。本实用新型可方便进行石英晶片坨测量。
基本信息
专利标题 ：
一种石英晶片坨的测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921707655.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-12
授权号 ：
CN210293010U
授权日 ：
2020-04-10
发明人 ：
夏良军
申请人 ：
菲特晶（南京）电子有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市经济技术开发区新港大道80-2号
代理机构 ：
南京常青藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
金迪
优先权 ：
CN201921707655.7
主分类号 ：
G01B3/20
IPC分类号 ：
G01B3/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B3/1094
用于记录信息或执行计算
G01B3/20
滑规
法律状态
2020-04-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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