一种弯曲测试治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种弯曲测试治具，包括底座、位于底座两端并向上延伸的两个支架、安装在底座上的定位块、下压块；支架上具有承载测试板的承载面，通过支架承载被测的测试板，再通过下压块下压测试板即可完成测试。测试的弯曲变量通过定位块与承载面之间的高度关系实现。
基本信息
专利标题 ：
一种弯曲测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921774180.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-22
授权号 ：
CN211402440U
授权日 ：
2020-09-01
发明人 ：
杨漫雪胡志远柯尊秋
申请人 ：
南京萨特科技发展有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市青马路6号
代理机构 ：
南京苏高专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
张弛
优先权 ：
CN201921774180.3
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2020-09-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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