一种射线发射器校准装置
授权
摘要
一种射线发射器校准装置，该校准装置转动设置在一平板架上，所述平板架一端设置有成像板，该校准装置包括能绕着所述成像板转动的旋转臂，所述旋转臂外侧面设置有孔标准块，所述孔标准块的内侧面开设有多列成像孔，每列成像孔均包含从大到小排列的若干盲孔，所述旋转臂对应所述成像孔位置开设有第一方孔，所述孔标准块的外侧面设置有高度标准块，所述高度标准块设置有若干层台阶且每层台阶与一列成像孔位置对应设置。本实用新型设计的校准装置，可通过射线发射器照射不同厚度的台阶来观察孔成像的清晰度，从而判断射线发射器是否需要调整，校准装置结构简单，操作方便，判断结果准确率高，保证了射线发射器检测的精度，提高了产品的出厂质量。
基本信息
专利标题 ：
一种射线发射器校准装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921783711.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-22
授权号 ：
CN211292652U
授权日 ：
2020-08-18
发明人 ：
陶维道刘军张福旺王庆涛周冰黄伟博徐刘龙
申请人 ：
苏州工业园区道青科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区娄葑镇东富路8号12号厂房
代理机构 ：
苏州翔远专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
胡涛
优先权 ：
CN201921783711.5
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04 G01T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2020-08-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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