本实用新型公开了一种顶针式的集成电路测试治具，包括基座、按压台、盖体、放置槽和吸附结构，所述基座底部的拐角位置处皆设有吸附结构，且基座顶部的中心位置处设有放置槽，并且基座的顶部安装有盖体，所述盖体底部的两侧皆设有定位结构，且盖体内部的中心位置处设有通槽，通槽的两内侧壁上皆固定有承载板，并且相邻承载板之间的通槽内部设有按压台，所述按压台底部的中心位置处设有缓冲结构，且按压台两侧的承载板外壁上皆设有限位槽，并且限位槽内部的一端设有限位块。本实用新型不仅降低了测试治具使用时因力度过大对放置于放置槽内部芯片造成损伤的现象，提高了测试治具使用时的稳定性，而且提高了测试治具使用时的精准性。