一种可控硅测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种可控硅测试装置。它包括测试台、安装槽、检测仪、推送装置和分选机构，安装槽、检测仪和推送装置均设置在测试台上，晶闸管包括管体和连接在管体上的引脚，引脚下表面到管体下表面的距离不大于安装槽的深度，检测仪包括与引脚匹配的检测板，推送装置推送晶闸管使得引脚与检测板接触，分选机构包括落料板、分选板、用于控制落料板的落料驱动装置和用于控制分选板的分选驱动装置，检测仪连接有用于控制落料驱动装置和分选驱动装置的控制器。本实用新型的有益之处在于：通过推送装置将待检测的晶闸管推入检测槽，此时晶闸管的引脚正好与检测仪上的检测板接触，减少了对晶闸管手工定位的步骤，能够提高检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种可控硅测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922014967.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-20
授权号 ：
CN212008815U
授权日 ：
2020-11-24
发明人 ：
倪元年
申请人 ：
苏州华元森电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区若水路388号D211室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201922014967.6
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-11-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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