一种光电开关电特性测试治具
授权
摘要

本实用新型提供了一种光电开关电特性测试治具,包括底座,设置在底座表面一侧的测试台,所述测试台上设置用于容置光电开关的摆放槽,所述底座表面另一侧设置立柱,把手通过滑动机构设置在立柱一侧并可在立柱侧部上下移动,所述把手的另一侧固定设置暗盒,且所述暗盒位于所述摆放槽上方,当所述暗盒随所述把手下移后能完全罩住放在所述摆放槽上的光电开关,所述摆放槽内设置挡板,所述挡板两侧水平设置弹簧顶针。本实用新型提供的一种光电开关电特性测试治具,能够避免引脚弯曲且测试简单。

基本信息
专利标题 :
一种光电开关电特性测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922054556.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-25
授权号 :
CN211905433U
授权日 :
2020-11-10
发明人 :
甄文鑫
申请人 :
沈阳中光电子有限公司
申请人地址 :
辽宁省沈阳市经济技术开发区四号街16号
代理机构 :
北京中强智尚知识产权代理有限公司
代理人 :
黄耀威
优先权 :
CN201922054556.X
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/327  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-11-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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