一种老化板测试设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种老化板测试设备。一种老化板测试设备，所述老化板测试设备包括，第一连接部，通过XY平台安装于基座；载物部，旋转连接于第一连接部；所述载物部安装有测试部，所述测试部用于电连接放置在载物部上的老化板；测试机，有线电连接于测试部；所述第一连接部连接有第二连接部，所述测试机安装于所述第二连接部上；从而缩短连接于测试部和测试机之间的连接线，减小信号传输的损失；减小测试机相对于载物部的运动量，增强测试机测试数据的稳定性。
基本信息
专利标题 ：
一种老化板测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922061600.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-26
授权号 ：
CN211374829U
授权日 ：
2020-08-28
发明人 ：
沈杰黄亮亮
申请人 ：
矽电半导体设备（深圳）股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区龙城工业园3号厂房三楼东区、五楼中西区
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201922061600.X
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2020-08-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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