本实用新型公开了一种新型半导体尺寸及形貌检测设备，涉及半导体检测设备技术领域。本实用新型包括底座，所述底座的顶端滑动连接有电动伸缩杆，电动伸缩杆的顶端固定连接有支撑杆，支撑杆的两侧通过滑槽一滑动连接有滑块，滑块的底端前端设置有照射装置，滑块的底端且位于照射装置的后侧设置有电池组，电池组的底端固定设置有滑轨，滑轨内滑动连接有若干激光发生器，激光发生器的底端设置有激光头，支撑杆的顶端阻尼铰接有观察镜，底座的顶端靠近观察镜设置有支撑台，支撑台的顶端中部设置有夹持装置，支撑台上靠近电动伸缩杆的一侧设置有刻度。本实用新型通过滑轨、激光发生器和刻度的配合使用，能够较为准确的检测出被检测的半导体的尺寸。