一种测试插座

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摘要

本实用新型公开了一种测试插座，属于芯片检测技术领域。所述测试插座包括保护座和坐落于所述保护座上方的测试座，所述测试座的中心开设有凹槽，探针组件容纳于所述凹槽内，所述探针组件包括接地铜块和穿设于所述接地铜块内的探针；所述接地铜块上设有接地探针插孔和信号探针插孔，分别用于插设接地探针和信号探针；所述接地铜块包括由上至下叠放的上铜块和下铜块，所述上铜块和所述下铜块上的探针插孔一一对应，以使每个探针均同时插设于所述上铜块和所述下铜块上。本实用新型通过接地铜块上分别设置接地探针插孔和信号探针插孔，将接地探针和信号探针隔开，避免二者之间产生干扰；同时提高了探针放置的稳固性，保证了与芯片引脚的精准接触。

基本信息

专利标题：

一种测试插座

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922107162.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-11-29

授权号：

CN211318541U

授权日：

2020-08-21

发明人：

季广华王坚

申请人：

上海捷策创电子科技有限公司

申请人地址：

上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区龙东大道3000号5号楼302室-5325

代理机构：

北京品源专利代理有限公司

代理人：

孟金喆

优先权：

CN201922107162.6

主分类号：

G01R1/073

IPC分类号：

G01R1/073