测试头
授权
摘要
本实用新型公开了一种测试头，所述测试头包括外壳、探针和挡板，所述外壳内设有安装腔，外壳的一侧设有连通所述安装腔的安装口，所述探针包括若干根，若干根所述探针以设定的排布方式设于所述安装腔内，且所述探针均可伸缩于所述安装腔内外，所述挡板上设有一个以上的通孔，且所述挡板可拆卸地设于所述安装口上，对应的所述探针从所述通孔伸出所述安装腔外。该测试头可对目前市场上各种不同类型的芯片进行识别、烧录或者复位等操作，并且使用方便。
基本信息
专利标题 ：
测试头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922206935.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-10
授权号 ：
CN211928107U
授权日 ：
2020-11-13
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
广州众诺电子技术有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市高新技术产业开发区科丰路31号华南新材料创新园G10栋202号
代理机构 ：
广州知顺知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
彭志坚
优先权 ：
CN201922206935.6
主分类号 ：
G01R31/319
IPC分类号 ：
G01R31/319 G01R31/317 G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/319
••••测试器硬件，即输出处理电路
法律状态
2020-11-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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