用于测试一个或多个被测器件的自动化测试设备、过程和计算机...
公开
摘要
根据本发明的实施例包括用于测试一个或多个被测器件的自动化测试设备。自动化测试设备被配置为自动、动态地生成一个或多个、优选地多个测试场景，测试场景包括多个测试活动。不同的测试活动利用被测器件资源的子集，这些子集可以重叠。自动化测试设备被配置为生成多个测试场景，使得与测试场景的多个测试活动相关联的被测器件的资源不相互冲突。
基本信息
专利标题 ：
用于测试一个或多个被测器件的自动化测试设备、过程和计算机程序，其中不同的测试活动利用被测器件资源的子集
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114631031A
申请号 ：
CN202080076051.6
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2020-07-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
约亨·里瓦尔
申请人 ：
爱德万测试公司
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
桑敏
优先权 ：
CN202080076051.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G06F11/263 G01R31/319
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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