一种落射式宽光谱荧光显微成像系统
授权
摘要
本实用新型涉及荧光显微技术领域,且公开了一种落射式宽光谱荧光显微成像系统,包括承载板,承载板上固定连接有支撑架,支撑架上安装有荧光显微镜,支撑架上安装有成像系统,承载板上连接有移动机构,移动机构包括移动槽、螺纹轴、两个第一螺纹孔、两块移动块和载物板,移动槽开设在承载板的顶部板壁上,螺纹轴的两端均通过第一轴承转动连接在移动槽的两侧槽壁上,两个第一轴承分别固定设在移动槽的两侧槽壁上,螺纹轴的一端穿过第一轴承内圈并向外延伸,两个第一螺纹孔分别开设在对应的移动块上。本实用新型在观察好载波片可以非常方便的观察下一个载玻片,省去了频繁的手动更换载玻片,节省时间,在需要观察多个载玻片时观察效率高。
基本信息
专利标题 :
一种落射式宽光谱荧光显微成像系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922308877.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-20
授权号 :
CN211652543U
授权日 :
2020-10-09
发明人 :
闫灿任阔黎宝祥
申请人 :
三英精控(天津)仪器设备有限公司
申请人地址 :
天津市武清区开发区福源道北侧创业总部基地C21号楼
代理机构 :
天津协众信创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王力强
优先权 :
CN201922308877.8
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64 G01N21/01
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2020-10-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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